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发明公开:具有局部加热的测试系统及其制造方法

[公开日期] 2015-12-16 [公开号] CN105164544A
#智能存储系统股份有限公司 #D.L.迪安 #R.W.埃利斯 #S.哈罗
一种测试系统(100),及其制造方法,包括:包括散热器(206)的热管理头部(402);与散热器(206)直接接触的电子器件(210);以及用于在散热器(206)和电子器件(210)之间传递能量的电流。

一种测试系统的制造的方法,包括∶提供包括散热器的热管理头部;将所述散热器放置成与电子器件直接接触;以及通过改变电流在所述散热器和所述电子器件之间传递能量。
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类型:发明公开
发明人:D.L.迪安,R.W.埃利斯,S.哈罗
专利权人:智能存储系统股份有限公司
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