#智能存储系统股份有限公司
#D.L.迪安
#R.W.埃利斯
#S.哈罗
一种测试系统(100),及其制造方法,包括:包括散热器(206)的热管理头部(402);与散热器(206)直接接触的电子器件(210);以及用于在散热器(206)和电子器件(210)之间传递能量的电流。
一种测试系统的制造的方法,包括∶提供包括散热器的热管理头部;将所述散热器放置成与电子器件直接接触;以及通过改变电流在所述散热器和所述电子器件之间传递能量。
附件:具有局部加热的测试系统及其制造方法
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类型:发明公开
发明人:D.L.迪安,R.W.埃利斯,S.哈罗
专利权人:智能存储系统股份有限公司
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①请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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