#成都大学
#王阿署
#曾令艳
本发明公开了一种AlGaN GaN HEMT的热管理方法,在AlGaN GaN Si衬底上,使用ICP方法在AlGaN和GaN层上刻蚀深槽用于器件之间的绝缘;使用电子束蒸发方法淀积欧姆接触电极;采用PECVD的方法生长钝化层;刻蚀源极和漏极处的钝化层;采用PECVD的方法生长金刚石热分散层;使用SiN作为保护层,采用ICP方法刻蚀金刚石层以形成源极、漏极及栅极窗口;刻蚀栅极处的钝化层;电子束蒸发淀积柵极电极。本发明能有效的降低器件的沟道温度,增加器件的漏电流输出,使其得到更好的散热效果。
1.一种AlGaN/GaN HEMT的热管理方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在AlGaN/GaN/Si衬底上,使用ICP方法在AlGaN和GaN层上刻蚀深槽用于器件之间的绝缘;(2)使用电子束蒸发方法淀积欧姆接触电极;(3)采用PECVD的方法生长钝化层;(4)刻蚀源极和漏极处的钝化层;(5)采用PECVD的方法生长金刚石热分散层;(6)使用SiN作为保护层,采用ICP方法刻蚀金刚石层以形成源极、漏极及栅极窗口;(7)刻蚀栅极处的钝化层;(8)电子束蒸发淀积柵极电极。
附件:一种AlGaN/GaN HEMT的热管理方法
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类型:发明公开
发明人:王阿署,曾令艳
专利权人:成都大学
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