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发明公开:一种基于动态Voronoi图的非均匀采样热重构方法及装置

[公开日期] 2012-10-31 [公开号] CN102760115A
#上海交通大学 #李鑫 #刘涛 #刘文江 #戎蒙恬 #周亮
本发明提供了一种基于动态Voronoi图的非均匀采样热重构方法及装置,通过计算芯片的功耗数据,并依据此功耗数据获得在此功耗数据下微处理器的温度分布,接着通过热感器获取采样温度值列表,然后根据芯片面积大小构造虚拟均匀网格并估算出每个虚拟均匀网格中的温度数值,最终依据虚拟均匀网格中的温度数值,重构出芯片的温度分布,本方案能有效的运用在动态热管理技术中实现实时的全局和局部温度监控。

一种基于动态Voronoi图的非均匀采样热重构方法,其特征在于,所述方法包括:步骤一、计算芯片的功耗数据,并依据此功耗数据获得在此功耗数据下微处理器的温度分布;步骤二、通过热感器获取采样温度值列表;步骤三、根据芯片面积大小构造虚拟均匀网格;步骤四、估算出每个虚拟均匀网格中的温度数值;步骤五、依据虚拟均匀网格中的温度数值,重构出芯片的温度分布。
附件:一种基于动态Voronoi图的非均匀采样热重构方法及装置 免费下载

类型:发明公开
发明人:李鑫,刘涛,刘文江,戎蒙恬,周亮
专利权人:上海交通大学
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