发明公开：用于管芯上温度测量的装置和方法

1.一种系统,包括： 处理器,在操作期间具有热点,所述热点是其温度高于所述处理 器中与所述热点邻接的区域的局部区域； 用于检测所述热点内温度的部件； 用于根据所述用于检测的部件所检测的温度生成测量的温度读数 的部件； 用于根据所述测量的温度读数指导所述处理器修改处理器操作的 部件； 半导体管芯,包括所述处理器、所述用于检测的部件、所述用于 生成的部件和所述用于指导的部件；以及 用于热管理的部件,在所述半导体管芯外部,并对所述用于指导 所述处理器的部件的输出作出响应。